中达新材检测中心近日完成扫描电子显微镜（SEM）及X射线能谱仪（EDS）的换新升级。新设备的投入使用，旨在进一步提升材料检测与失效分析能力。

扫描电子显微镜（SEM）利用聚焦电子束扫描样品表面，激发二次电子等信号，实现高分辨率微观形貌成像，可清晰观察材料表面纳米至微米级结构特征，为组织分析、缺陷识别提供直观依据。

X射线能谱仪（EDS）与SEM联用，通过检测电子束激发的特征X射线，对微区进行元素定性与定量分析，检测范围涵盖硼（B）至铀（U）等元素。两者协同工作，可在观察形貌的同时同步获取成分信息，广泛应用于材料科学、地质、生物等领域的微观结构表征与元素分布分析。

• 利用SEM观察微观组织、晶粒特征及裂纹的形貌与扩展路径，识别夹杂物形貌与分布；

• 借助EDS对夹杂物进行微区元素定性与定量分析，确定其化学组成，从而区分夹杂物类型（如氧化物、硫化物等）。